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J-STD-003:はんだ付性試験(PCB)

プリント基板のはんだ付性試験 J-STD-003Cは、すず鉛または鉛フリーのはんだを使用しながら、プリント基板の表面導体、取付けランドおよびめっきスルーホールのはんだ付性を評価するための試験方法や欠陥の定義について規定し、また図を示すものである。

本規格はベンダーおよびユーザーの両者による使用を目的としている。本規格はプリント基板の表面導体、取付けランドおよびめっきスルーホールがはんだと容易にぬれること、および過酷なプリント基板組立工程に耐えることに合格であると判定するためのはんだ付性試験方法を提供することを目的としている。

本規格は表面導体(および取付けランド)とめっきスルーホールの両方のはんだ付性を評価するための試験方法について説明している。リビジョン「C」には、はんだ付性試験のGR&R (ゲージ繰返し性&再現性)に関する最新情報、およびアップデートされた図が掲載されている。

改訂版1は編集上の誤記を修正するとともに、ドキュメントの多くの領域に明確な記述を加えるものである。

本規格は、エレクトロニクス業界内で採用されるはんだ付性試験の要求事項と試験方法を規定する2つの基準のうちの1つである。もう1つは、部品側のはんだ付性について言及している。
IPC J-STD-002部品リード、電極、ラグ、端子およびワイヤーのはんだ付性試験

J-STD-003:はんだ付性試験(PCB)

J-STD-003のサンプル

  • 目次
    目次1
  • コンテンツ例
    コンテンツ例1
  • 最新日本語版バージョン:C
    更新年:2017年(翻訳2020年)
    全27ページ
    David Adams, Rockwell Collins
    Chris Alter, Honeywell
    Bill Beair, Raytheon Company
    James Bielick, IBM Corporation
    Wendi Boger, TTM Technologies
    Edwin Bradley, Motorola
    Mark Buechner, BAE Systems

  • Thomas Carlstrom, Ericsson AB
    Thomas Carroll, Boeing Company
    Byron Case, L-3 Communications
    Vanja Bukva, Teledyne Dalsa
    Alejandro Cruz, Jabil Mexico
    Don Dupriest, Lockheed Martin
    Howard Feldmesser, Johns Hopkins
    University
    Rigo Garcia, NASA GSFC
    Christian Klein, Robert Bosch
    Jose Rios, Massachusetts Institute of
    Technology